西安西測電子技術服務有限公司

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西測電子元器件檢測篩選中心成立于2015年。擁有實驗場地4000平方米,獲得CNAS、GJB 2725A、資質認定以及武器裝備承制資格,各種專業檢驗檢測儀器設備150余臺套,其中包括AdvanTest SOC芯片測試系統、北京華峰測控 混合信號測試系統、Chroma DC/DC測試系統等先進進口測試設備以及業內認可度較高的測試儀器儀表,是專業從事電子元器件測試、篩選、及相關技術服務的實驗室。

實驗室擁有一支多年專業從事電子元器件檢驗檢測研究的技術團隊,其中技術開發工程師20余名,試驗人員30余人,目前累計完成各類電子元器件測試程序1.5萬余種。檢測篩選電子元器件類型包括:電子元件(電阻、電容、電阻網絡、電感、繼電器等)、半導體分立器件(二極管、三極管、場效應管、可控硅、晶體振蕩器、光電耦合器、二極管堆、晶體管陣列等)、混合集成電路(DC/DC)、電源類(線性穩壓器、電源監控器、電源管理、PWM控制器等)、驅動器、通用模擬器件(運算放大器、電壓比較器、跟隨器系列、采樣保持器等)、模擬開關與多路復用器、中小規模數字電路(4000系列、54系列、74系列)、數據轉換器(A/D、D/A)、存儲器系列(EPROM、EEPROM、SRAM、DRAM、FLASH等)以及總線接口類(RS-232、RS-422/485、LVDS、CAN等)。

現行有效標準覆蓋GJB 548B-2005、GJB 360B-2009、GJB 128A-1997、GB/T 17574-1998 等試驗及測試方法等國軍標50余套。試驗項目覆蓋元器件二次篩選試驗項目:外觀目檢、高溫貯存、三溫測試(常溫、高溫、低溫)、溫度循環、熱沖擊、溫度沖擊、檢漏、噪聲檢測(PIND)、掃頻振動、恒定加速度、高溫老煉、高溫反偏、穩態工作壽命等。通過電子元器件二次篩選激發電子元器件潛在設計、生產缺陷,有效剔除早期失效產品,提高整機系統的可靠性。








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